28.
ročník

Marek Selucký

Autoři

-red- (1)

Adam Hussein (1)

Bc. Jozef Klus (1)

David Vinter (1)

Filip Vymyslický (1)

Gustav Hájek (2)

Ing. Jan Drápela (1)

Ing. Jan Přikryl Ph.D. (1)

Ing. Jaroslav Musil (1)

Ing. Jitka Svatošová (1)

Ing. Ladislav Obr CSc. (2)

Ing. Michaela Pospíšilová (1)

Ing. Michal Filla Ph.D. (1)

Ing. Miroslav Malý (1)

Ing. Petr Procházka (1)

Ing. Václav Jakubčík (1)

Ing. Veronika Koudelníčková (1)

Ing. Vladimír Harazím CSc (1)

Ing. Vladimír Kohout CSc. (1)

Ivan Jurka (1)

Jaroslav Smolík (1)

Jindřich Schick (1)

Jiří Hataš (1)

L. B. (1)

Lenka Brychtová (1)

Lucie Bártová (1)

M. M. + red. (1)

Marek Selucký (1)

Mgr. Marie Lesáková (1)

Michal Hoblík (1)

Michal Motúz (1)

Petr Jarkovský (2)

Petra Schejbalová (1)

Redakce (2)

Tomáš Chramosta (1)

Tomáš Dáňa (1)

Tomáš Pidima (1)

V. K. (1)

  • Měření tloušťky povrchové vrstvy ultrazvukovou metodou

    Marek Selucký

    V technické praxi se běžně setkáváme s přístroji, které měří tloušťku povrchové vrstvy. Pokud je základním materiálem kov (ale může být i jiný materiál, např. dřevo), je měření z hlediska obsluhy přístroje jednoduché a přístrojů na trhu je široký výběr od laciných orientačních měřidel až po přesné přístroje nebo speciální zákaznická řešení.

    Vyšlo v časopisu Povrchové úpravy 3/2024